Adamson, P.; Andreopoulos, C.; Auty, D. J.; Ayres, D. S.; Backhouse, C.; Barr, G.; Barrett, W. L.; Bhattarai, P.; Bishai, M.; Blake, A.; Bock, G. J.; Boehnlein, D. J.; Bogert, D.; Budd, S.; Cavanaugh, S.; Cherdack, D.; Childress, S.; Choudhary, B. C.; Coelho, J. A. B.; Coleman, S. J.; Corwin, L.; Cronin-Hennessy, D.; Damiani, D.; Danko, I. Z.; de Jong, J. K.; Devenish, N. E.; Diwan, M. V.; Dorman, M.; Escobar, C. O.; Evans, J. J.; Falk, E.; Feldman, Gary J.; Fields, T. H.; Frohne, M. V.; Gallagher, H. R.; Gomes, R. A.; Goodman, M. C.; Gouffon, P.; Graf, N.; Gran, R.; Grant, N.; Grzelak, K.; Habig, A.; Harris, D.; Harris, P. G.; Hartnell, J.; Hatcher, R.; Himmel, A.; Holin, A.; Huang, X.; Hylen, J.; Ilic, J.; Irwin, G. M.; Isvan, Z.; Jaffe, D. E.; James, C.; Jensen, D.; Kafka, T.; Kasahara, S. M. S.; Koizumi, G.; Kopp, S.; Kordosky, M.; Krahn, Z.; Kreymer, A.; Lang, K.; Lefeuvre, G.; Ling, J.; Litchfield, P. J.; Loiacono, L.; Lucas, P.; Mann, W. A.; Marshak, M. L.; Mayer, N.; McGowan, A. M.; Mehdiyev, R.; Meier, J. R.; Messier, M. D.; Michael, D. G.; Miller, W. H.; Mishra, S. R.; Mitchell, J.; Moore, C. D.; Morfín, J.; Mualem, L.; Mufson, S.; Musser, J.; Naples, D.; Nelson, J. K.; Newman, H. B.; Nichol, R. J.; Nowak, J. A.; Oliver, W. P.; Orchanian, M.; Paley, J.; Patterson, R. B.; Pawloski, G.; Pearce, G. F.; Pittam, R.; Plunkett, R. K.; Qiu, X.; Ratchford, J.; Raufer, T. M.; Rebel, B.; Reichenbacher, J.; Rodrigues, P. A.; Rosenfeld, C.; Rubin, H. A.; Ryabov, V. A.; Sanchez, M. C.; Saoulidou, N.; Schneps, J.; Schreiner, P.; Shanahan, P.; Sousa, A.; Strait, M.; Tagg, N.; Talaga, R. L.; Thomas, J.; Thomson, M. A.; Tinti, G.; Toner, Ruth; Tzanakos, G.; Urheim, J.; Vahle, P.; Viren, B.; Weber, A.; Webb, R. C.; White, C.; Whitehead, L.; Wojcicki, S. G.; Wright, D. M.; Yang, T.; Zwaska, R. (American Physical Society (APS), 2011)
The magnetized MINOS Near Detector, at a depth of 225 mwe, is used to measure the atmospheric muon charge ratio. The ratio of observed positive to negative atmospheric muon rates, using 301 days of data, is measured to be ...
